หมวดหมู่ทั้งหมด
สินค้าเด่นที่ผ่านการคัดสรร
Trade Assurance
ศูนย์รวมผู้ซื้อ
ศูนย์ช่วยเหลือ
รับแอป
กลายเป็นซัพพลายเออร์

IEC60529รูปที่1 IP1X ทดสอบ Sphere Probe พร้อมด้ามจับและแรง50N

ยังไม่มีรีวิว
[CODE_4]: MEDIA_ELEMENT_ERROR: Format error
IEC60529รูปที่1 IP1X ทดสอบ Sphere Probe พร้อมด้ามจับและแรง50N
IEC60529รูปที่1 IP1X ทดสอบ Sphere Probe พร้อมด้ามจับและแรง50N
IEC60529รูปที่1 IP1X ทดสอบ Sphere Probe พร้อมด้ามจับและแรง50N
IEC60529รูปที่1 IP1X ทดสอบ Sphere Probe พร้อมด้ามจับและแรง50N
IEC60529รูปที่1 IP1X ทดสอบ Sphere Probe พร้อมด้ามจับและแรง50N
IEC60529รูปที่1 IP1X ทดสอบ Sphere Probe พร้อมด้ามจับและแรง50N

คุณสมบัติที่สำคัญ

คุณลักษณะอื่น ๆ

สนับสนุนที่กำหนดเอง
OEM, ODM
สถานที่กำเนิด
Guangdong, China
อำนาจ
อิเล็กทรอนิกส์
การประกัน
1 ปี
ชื่อแบรนด์
BONAD
หมายเลขรุ่น
BND-A50
Ball Diameter
50mm
Baffle Plate Diameter
45mm
Baffle Plate Thickness
4mm
Handle Diameter
10mm
Handle Length
100mm
Color
White
Product Status
In Stock
MOQ
1

ระยะเวลารอสินค้า

ตัวเลือกการปรับแต่ง

Customized logo (ยอดซื้อขั้นต่ำ : 100 ชิ้น )
Customized packaging (ยอดซื้อขั้นต่ำ : 100 ชิ้น )
Graphic customization (ยอดซื้อขั้นต่ำ : 100 ชิ้น )

คำอธิบายผลิตภัณฑ์จากซัพพลายเออร์

จำนวนสั่งซื้อขั้นต่ำ : 5 ชิ้น
฿4,124.13-8,935.60

รูปแบบ

ตัวเลือกทั้งหมด :1 การใช้.
เลือกเลย

การใช้(1)

IEC60529 figure 1 IP1X Test Probe A

การจัดส่ง

โซลูชันการจัดส่งสำหรับปริมาณที่เลือกไม่มีให้บริการในขณะนี้

ความคุ้มครองสำหรับผลิตภัณฑ์นี้

การชำระเงินที่ปลอดภัย

ทุกการชำระเงินที่คุณทำบน Chovm.com มีความปลอดภัยด้วยการเข้ารหัส SSL และโปรโตคอลการป้องกันข้อมูล PCI DSS ที่เข้มงวด

นโยบายการคืนเงิน

ขอรับเงินคืนหากคำสั่งซื้อของคุณไม่ได้จัดส่ง สูญหาย หรือสินค้าที่มาถึงมีปัญหาที่ตัวผลิตภัณฑ์

ติดต่อซัพพลายเออร์
แชทตอนนี้
สำรวจ